منابع مشابه
Elastic Properties of Metallic Thin Films: 2d Synchrotron Xrd Analysis during in Situ Tensile Testing
Elastic behavior of thin films studied from in situ loading of the specimen during X-ray diffraction on a synchrotron source is presented. Model nanometric multilayer W/Au systems exhibiting different microstructures were analyzed. These films are supported by a (thin) polyimide substrate. X-ray diffraction in transmission geometry was used to study the deformations of both phases as a function...
متن کاملStructural and mechanical properties of nanostructured tungsten oxide thin films
This study presents structural and mechanical properties of WO3 thin films deposited on glass substrates at different temperatures by radio frequency reactive magnetron sputtering. WO3 films deposited at temperatures up to 200uC are found as amorphous, but crystalline at 300 and 400uC. Chemical analysis reveals the overstoichiometry of the films. The diffusion of sodium ions from glass substrat...
متن کاملarchitecture and engineering of nanoscale sculptured thin films and determination of their properties
چکیده ندارد.
15 صفحه اولthe analysis of the role of the speech acts theory in translating and dubbing hollywood films
از محوری ترین اثراتی که یک فیلم سینمایی ایجاد می کند دیالوگ هایی است که هنرپیش گان فیلم میگویند. به زعم یک فیلم ساز, یک شیوه متأثر نمودن مخاطب از اثر منظوره نیروی گفتارهای گوینده, مثل نیروی عاطفی, ترس آور, غم انگیز, هیجان انگیز و غیره, است. این مطالعه به بررسی این مسأله مبادرت کرده است که آیا نیروی فراگفتاری هنرپیش گان به مثابه ی اعمال گفتاری در پنج فیلم هالیوودی در نسخه های دوبله شده باز تولید...
15 صفحه اولTHIN FILM XRD TOTAL PATTERN FITTING APPLIED TO STUDY OF EVOLUTION OF MICROSTRUCTURE OF TiO2 FILMS
New XRD total pattern fitting software MStruct was used in study of crystallization and microstructure evolution of magnetron-deposited TiO2 thin films and powders. It is an extension of the FOX program for structure determination from powder diffraction and it includes in particular the effects and corrections necessary for thin film analysis when parallel beam geometry and asymmetric detector...
متن کاملذخیره در منابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ژورنال
عنوان ژورنال: Acta Crystallographica Section A Foundations of Crystallography
سال: 2004
ISSN: 0108-7673
DOI: 10.1107/s0108767304095200